XRD微探針測試系統(tǒng)是一個緊湊設計并且可以在高溫和高真空環(huán)境下使用的原位XRD測試載體，通過安裝的可移動探針可以施加電壓并讀取電學信號，該系統(tǒng)可用于電場誘導的相變、鐵電材料研究中的相變及離子電池分析等。

溫度范圍： RT-450℃/ RT- 750℃/ RT-1000℃

溫度穩(wěn)定性和精度：0.1°C

獨立PID溫控

變溫方式：陶瓷加熱

樣品臺尺寸：1/2inch

探針數(shù)量：4個

探針接口：標準同軸或三軸接口

X/Y軸移動行程：12mm，Z軸移動行程：2mm

衍射角度：2θ：0-160度 ψ：0-85度 φ：0-360度

重量：450g

極限真空度：10^-3mbar（機械泵）/ 10^-6mbar（分子泵）

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